日本J-RAS离子迁移测试装置

可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

从当今的地球、市场环境来看，省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的，新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

简介：离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS  VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION  MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

详细资料请联系：深圳市世纪天源仪器有限公司

了解更多