LET-2000D系列半导体动态参数测试系统

LET-2000D系列是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试,LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度,可以有效准确的测量出实际的器件参数。

 

硬件优势>>>

■ 采用LECROY  12bit示波器,测试结果更准确

■ 高带宽的电压探测,能满足SIC/GAN的测量要求

■ 可以满足上/下管同时测试,避免频繁连接探头

■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件

■ 可根据客户需求定制

■ 可以增加器件的温度特性测试

■ 硬件可以升级自动机械手

 

软件特点>>>

■ 测量参数齐全:开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩测试

■ 支持器件类型多:单管/模块,MOSFET、IGBT

■ 离线数据分析:既可以在线测量,也可

■ 以记录数据离线分析

■ 测试方式:单脉冲、多脉冲

■ 可灵活设置测试项目

■ 软件具有较强的扩展能力

■ 测量项目及器件支持扩展

 

参数系统>>>

名称	说明
采集带宽	500 M Hz/1 GHz
采样率	10 Gsa/S
系统电压	DC—2000V/6000V
电压输出精度	±0.2%
电流	300A—3000A
短路电流	2000A—10000A
测量精度	2%
驱动电压范围	±20V
测量参数	Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等
测量项?	开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩能量测试
测量器件	单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD
脉宽	20ns-1000us.
脉冲数	单脉冲、2-5脉冲
测量标准	IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173

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