x-ray膜厚测试仪

x-ray膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来的荧光X射线分析方法.它是借助于电子计算机来完成的,已逐步地用来测定复合物的含量和薄膜的厚度,并得到了良好的效果。

x-ray膜厚测试仪采用X光管作X射线源，其能量和强度连续可调，可保证在测量范围内的每个厚度都达到**佳测量精度。