x射线膜厚测试仪

x射线膜厚测试仪硬件配置（均为美国标准配）：

*  射 线 管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W

*  激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源

*  检 测 器：数字半导体接收器

*  滤 波 器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种

*  准 直 器：4个（自动司服转化功能）

   圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm

*  摄像系统：彩色CCD摄像系统。

*  整体外观尺寸：长*宽450*450mm 整体重量：32KG

   样品的测量台：XY轴可移动样品台

   样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240 

*  搭载自动制作生成图文测量检验报告书

*  戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）

   智能英特尔  奔腾  G630处理器；OptiPLex(TM) 390MT机箱

   1GB（1x1GB）Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory

   500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive，DeLL IN1930 19英寸显示器

*  工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）

x射线膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来的荧光X射线分析方法.它是借助于电子计算机来完成的,已逐步地用来测定复合物的含量和薄膜的厚度,并得到了良好的效果。

x射线膜厚测试仪采用X光管作X射线源，其能量和强度连续可调，可保证在测量范围内的每个厚度都达到**佳测量精度。