CMI900X荧光镀层测厚仪

发布时间 2013-07-30 17:15:32

产品描述

产品介绍CMI900是一款性价比极高的台式X射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 快速精确的分析:正比计数探测器和50瓦微焦X射线管,大大提高了灵敏度。 简单元素的区分:二次光束过滤器可以分离重叠元素性能优化。 测量元素范围广:可预设参数,提供800多种预设应用参数/方法。 杰出的长期稳定性:自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果,简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正。 坚固耐用的设计,可以在实验室或生产线上操作,坚固的工业设计,经行业验证的技术,在全球销售量超过3000台产品属性电镀液分析;金成色分析;涂镀层厚度测量和/或成分分析,元素范围Ti-U;可同时进行多达15层元素成分分析;测量方法符合ISO3497,ASTM B568和DIN 50987。其他说明在电子行业与金属合金行业中是必不可少的设备,可以提高生产力,确保元件的可靠性,优化质量控制,从而确保产品生命周期。交易说明提供设备的产地证明、报关证明。直接从德国发货到客户工厂。
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