CST-50冲击试样缺口投影仪
发布时间 2010-11-30 09:00:54
产品描述
功能与特点
CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种**光学仪器，试样放大后的影像与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备**设备。
主要技术参数
投影屏： 200×200mm
放大倍数： 50X
光源： 12V
100W（卤钨灯）
电源： 220V
50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 约18Kg
济南时代新光仪器有限公司（试验机41）
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