PC-242HSR2高加速寿命试验箱

用  途：半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等饱和稳态湿热试验，磁性材料失重试验

名  称：高加速寿命试验装置（HAST） 
用  途：半导体、电子组件、塑封器件/材料、光器件、PCB等稳态湿热（不饱和加压蒸汽）试验，磁性材料失重试验   
制造商：株式会社平山制作所（HIRAYAMA） 
特  点：1、独特的无结露设计。2、双腔体设计。3、抽屉式滑动托盘设计。4、饱和试验（STD）和不饱和试验（HUM）两种试验模式。5、电子自动门锁紧结构。6、多种排气方式。7、可依据客户需要，选配不同试验夹具 
技术特性： 
型号 PC-242HSR2
内腔体尺寸 Φ 240 ×  D410 mm  D M × MMΦ × × ×    
温度范围 105.0 to 144.4deg C
湿度范围 75 to 100%RH
压力范围 0.019 to 0.208MPa
连续试验时间 200Hours

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