0-10V直流电压转0-5V直流电压

爆裂噪声是电流型噪声，在电阻电路中其影响更大。通过改善半导体制作工艺，可使半导体材料的纯度提高，杂质含量减少，从而使爆裂噪声得以改善。目前，只有在半异体器件的少数样品中可以发现爆裂噪声，通过对器件的挑选能够避免产生爆裂噪声。

分配噪声：

在双极型晶体管中，从发射区注入基区的载流子大部分会在放大区扩散进入集电区，形成集电电极电流，而小部分会在基区复合，形成基极电流。这种载流子在基区的复合也是随机的，因而会引起基极和集电极电流的随机波动，这种由于基区复合过程的随机性而引起电流IB和IC分配比例的随机变化所产生的噪声称为分配噪声。由于基本区复合与工作频率有关，故分配噪声也与频率有关。工作频率越高，分配噪声越大。因此，它是双极型晶体管工作在高频时的主要噪声。

主要特性:

>>国际标准二路信号输入:0-5V/0-10V/1-5V,0-10mA/0-20mA/4-20mA等

>>标准DIN35 导轨式安装（尺寸：106.7x79.0x25.0mm）

>>精度等级：0.1级、0.2级、0.5级。产品出厂前已检验校正，用户可以直接使用

>>二路输出标准信号：0-5V/0-10V/1-5V,0-10mA/0-20mA/4-20mA等，具有高负载能力

>>全量程范围内极高的线性度（非线性度<0.2%）

>>辅助电源：5V/12V/15V/24VDC（范围±10%）

>>具有较强的抗电磁干扰和高频信号干扰能力

产品选型表：

DIN22-IRT - U(A)□ - P□ - O□ 

输入信号				供电电源		输出信号
电压	代码	电流	代码	Power	代码	电流	代码	电压	代码
0-5V	U1	0-1mA	A1	24VDC	P1	0-20ma	O2	0~5V	O4
0-10V	U2	0-10mA	A2	12VDC	P2	4-20ma	O1	0-10V	O5
0-75mV	U3	0-20ma	A3	5VDC	P3	用户自定义	Oz	1-5V	O6
0-2.5V	U4	4-20mA	A4	15VDC	P4
用户自定义	Uz	用户自定义	Az

 

选型举例：

例1：输入信号:0-10V  供电电源:24V  输出两路信号:4-20ma  型号:DIN22-IRT-U2-P1-O1

例2：输入信号:0-10V 供电电源:12V   输出两路信号:0-10V   型号:DIN22-IRT-U2-P2-O5

 

应用：

>>信号长线无失真传输                    

>>模拟信号数据隔离、采集和变换                     

>>变频器信号隔离采集

>>隔离4-20mA或0-20mA信号传输

>>电力监控、医疗设备隔离

>>PLC/FA 电机信号隔离控制

>>工业现场信号隔离及变换

>>仪器仪表信号收发

 

>>非电量信号变送

 

通用参数

参数名称	测试条件	**小	典型值	**大	单位
隔离耐压	50Hz，1分钟,漏电流1mA		2500		VDC
耐冲击电压	3KV， 1.2/50us(峰值)
工作温度		-25		+70	℃
工作湿度	无凝露	10		90	%
存储温度		-45		+80	℃
存储湿度		10		95	℃

 

产品**大**额定值：

Storage Temperature （存贮温度）:+150℃

Continuous Isolation Voltage（持续隔离电压）:3000VDC

电源电压范围：±10%Vin

Junction Temperature（工作温度）:+85℃

Lead Temperature   （焊接温度）:+300℃（10秒）

注意：如果超出上述范围，产品可能会引起**性损坏。

 

噪声系数和噪声因数：

   在任何电路中都有很多噪声源同时在起作用，如电路中的电阻和其它元件的电阻分量都在产生热噪声，半导体器件在产生散弹噪声，有导体相互接触的地方在产生I/F噪声，半导体器件还有可能产生爆裂噪声。从设计和调试的角度出发，人们更关心的是整体电路的噪声特性，而不是各个独立的噪声源特性。这就是要定义一些整体电路的噪声特性指标，以便衡量电路噪声特性的优劣，并进行不同电路的性能对比，以及利用这些指标对电路进行改进和优化。噪声系数和噪声因数就是这样的指标。

   噪声系数：

   双极型晶体管、场效应管、集成运算放大器都有固有的内部噪声源。当衡量一个有源器件的噪声特性时，人们更为关注信号被放大和传递过程中信噪比的变化情况，为此引入噪声系数这一重要指，以衡量有源器件的噪声特性的优劣。

 

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