荧光光谱

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  德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是不可替代的工具一样，这种先进的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。
    SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得**的灵敏度和准确性。采用偏振次级靶以确保**佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。
    SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件RoHS检测等。
      XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令。

主要特点：
1.偏振X光激发样品，具有极低的背景，**的灵敏度
2.真正意义的Na-U的全分析，无需滤光片。
3.分析的含量范围ppm级到100%
4.极为丰富的软件系统，提供各种方法及校正模式。

技术参数：
1.功率50W，**大电压50KV，**大电流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移计数器，分辨率小于170eV
4.3位置次级靶自动转换系统，即3束X激发光源。
5.可选真空、充气、常压系统
 

SPECTRO XEPOS内部采用高性能

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