X荧光镀层测厚仪
发布时间 2015-02-04 14:17:46
产品描述
X荧光镀层测厚仪应用领域：
● 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析
●RoHS /ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）
●无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；
●合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。
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