光时域反射测试仪(OTDR)
发布时间 2009-03-10 11:10:39
产品描述
1.距离测量
**大测量距离:在10?s脉宽下,尾部测量动态裕量大于6dB条件下:
1310nm不小于40Km,1550nm不小于80Km
测距模式:双光标,两点法
群折射率修正:1.3000—1.7000,以0.00001为步长修正
距离显示分辨率:10cm**大
抽样距离:50cm**小
**大采样点数:2000点
精确度:±1m±抽样距离±0.07%x距离 @25℃(未包含群折射率不确定性)
2.衰减测量
衰减测量模式:双光标,两点法或**小二乘法
衰减显示分辨率:0.001dB
光标分辨率:0.02dB
精确度:±0.05dB
3.反射测量
反射显示分辨率:0.01dB
精确度:±3dB
4.波长
双波长1310nm±20nm,1550nm±20nm @20℃±5℃,10?s
5.脉宽
10ns 50ns 100ns 500ns 1?s 5?s 10?s
6.动态
本机标识动态在如下条件定义:20℃±2℃,10?s脉宽,3分钟平均时间,起始
后向散射非内插电平与CNR=1时噪声电平的插值:1310nm≥24dB,1550≥22dB
7.盲区
本机标识盲区在如下条件下定义:20℃±2v,10ns脉宽
事件盲区:在非饱和反射事件向下1.5dB处,平滑关闭测得≤5m
衰减盲区:FC/PC反射事件,从±0.5dB处到线性区距离,平滑关闭下测得≤25m
8.平滑方式:关、低、高
详细内容请登陆 http://www.suntelecommunication.cn/gb/products/OTDRs.asp
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上海浦津实业有限公司
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