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晶振的老化指标

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         晶体谐振频率和谐振电阻都随时间的延续而变化,这就是所说的老化,人们**关注的是谐振频率随时间的变化。

  对AT切晶体来说,在晶体使用初期,老化主要受元件内部应力释放影响,频率向升高方向变化,而后期受电极膜吸附的影响,,其频率按对数关系向降低方向变化,随时间增加变化量逐渐降低。为减小出厂时的老化率,生产商大都对产品进行了预老化。

  对老化指标,一般都规定产品的老化水平,而它并非明确的试验条件,这种“水平”,是通过生产有计划的抽检而获得的。可能某些个别晶体元件比规定水平会差,这是允许的。

  目前电阻焊密封的石英晶体元件的老化率水平可以控制±5×10-6以下,对于普通精度产品(频差大于±30×10-6)的应用来说,老化指标对元件工作影响并不是很重要,对于小公差(±0×10-6)以下)的晶体元器件来说老化是需要关注的指标。

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